CWS – System zur Inline-Messung der Oberflächenqualität

QISAB hat eine Reihe von Produkten für die schnelle und präzise Kontrolle der Oberflächenqualität für automatisierte und manuelle Inspektionen entwickelt.

Anforderungen an optische Oberflächen und Erkennung von Defekten sind von höchster Bedeutung für die gesamte Wertschöpfungskette.

Vom Lieferanten für Werkzeugmaterial bis hin zur Endbenutzer-Akzeptanz von visuellen und funktionalen Eigenschaften des Produkts.

Produkte wie Handyhüllen, Kontaktlinsen und gepresste Stahlbleche für Karosserien sind Beispiele dafür, dass die Oberflächenkontrolle entscheidend und strategisch für die Wettbewerbsfähigkeit ist.

Die Produktpalette von QISAB erfüllt diese Anforderungen – sie wurde in einem internationalen Forschungsumfeld entwickelt und hat hohe Anforderungen an die Prozessintegration und die industrielle Robustheit erfüllt.

Das CWS – Coherent Wave Scatter System ist ein robustes Lasersystem zur Messung von Oberflächenqualitätsparametern im Nanometerbereich, geeignet für die Inline Inspektion

Die Technik vermisst Flächen bis zu 4 x 4 mm und einer Oberflächenstandardabweichung (Sq) im Bereich von 0,010 – 0,350 µm in weniger als 0,1 s je nach Laserpunktgröße.

Die Messgeschwindigkeit kann durch die Verwendung von zwei oder mehr Sensoren parallel erhöht werden.

Das Messsystem ist robust und eignet sich daher ideal für automatisierte Inline-Prozesse, z.B. durch die Integration in Werkzeugwechselsysteme von Robotern.

Das CWS ermöglicht es, das gesamte Objekt schnell, innerhalb der Produktionszelle zu scannen und Informationen über die Oberflächenqualität mit entsprechender Positionierung auf den CAD-Daten zu erhalten.

Die Informationen bestehen sowohl aus statistischen Werten für Glanz und Welligkeit als auch aus der Erkennung von Strukturen und deren Richtungen.

Diese Information dient als Rückmeldung für automatisierte Fertigungsprozesse und ist Teil einer objektiven Qualitätssicherung.

Die erfassten Daten für die Oberflächenraueit (Sq), Glanz, Symmetrie und Struktur (Str) korrelieren in Bezug auf die Oberflächenstruktur mit ISO 25178, Teil des internationalen Standards GPS (Geometrical Product Specification)