CWS 640

Das CWS 640 ist ein robustes Lasersystem zur Inline-Messung der Qualitätsparameter der Oberfläche im Nanometerbereich.

Das CWS 640 besteht aus:

• CWS optischer Kopf
• CWS Netzteil mit unterbrechungsfreier Stromversorgung
• CWS Analyse- und Visualisierungs-Software

CWS 640 4×4 Produktbeschreibung / Technische Daten

 

  • Messfeld ≥ 4×4 mm
  • Kamera  2048 x 2048 pixels
  • Auflösung x, y  2 µm
  • Tiefe des Messfeldes  1 mm
  • Messdauer  1 ms
  • Analysedauer  ≤ 0.2 sec
  • Auflösung rms  Sq  10 nm < Sq < 350 nm
  • Positioniergenauigkeit  < 1 mm (+/- 0,5 mm)
  • Arbeitsabstand  75 mm

CWS 640 1×1 Produktbeschreibung / Technische Daten

 

  • Messfeld ≥ 1×1 mm
  • Kamera  2048 x 2048 pixels
  • Auflösung x, y  0,5 µm
  • Tiefe des Messfeldes  1 mm
  • Messdauer  1 ms
  • Analysedauer  ≤ 0.2 sec
  • Auflösung rms  Sq  10 nm < Sq < 350 nm
  • Positioniergenauigkeit  < 0,3 mm (+/- 0,2 mm)
  • Arbeitsabstand  16 mm

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