CWS 640

Le CWS 640 est un système laser robuste pour la mesure en ligne de production des paramètres de qualité des surfaces à l’échelle nanométrique.

Le CWS est constitué de :

  • La tête optique CWS
  • L’Unité d’Alimentation CWS
  • Des logiciels CWS d’analyse et de visualisation

CWS 640 4×4  Spécifications produit

  • Champ mesuré ≥ 4×4 mm
  • Caméra : 2048 x 2048 pixels
  • Résolution x, y : 2 µm
  • Profondeur de champ : 1 mm
  • Temps de mesure : 1 ms
  • Temps d’analyse ≤ 0,2 sec
  • Résolution rms de l’instrument Sq 10 nm < Sq < 350 nm
  • Précision de positionnement requise < 1 mm (+/- 0,5 mm)
  • Distance de travail : 75 mm

CWS 640 1×1 Spécifications produit

  • Champ mesuré ≥ 1×1 mm
  • Caméra : 2048 x 2048 pixels
  • Résolution x, y : 0.5 µm
  • Profondeur de champ : 1 mm
  • Temps de mesure : 1 ms
  • Temps d’analyse ≤ 0,2 sec
  • Résolution rms de l’instrument Sq 10 nm < Sq < 350 nm
  • Précision de positionnement requise < 0.2 mm (+/- 0,5 mm)
  • Distance de travail : 16 mm
CWS 640 4×4 Spécifications produit
CWS 640 1×1 Spécifications produit

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